专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
北京理工大学
>
双二维MEMS微镜扫描的高灵敏共焦拉曼光谱快速测量方法及装置制造方法及图纸
>技术资料下载
下载双二维MEMS微镜扫描的高灵敏共焦拉曼光谱快速测量方法及装置的技术资料
文档序号:35701785
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及一种双二维MEMS微镜扫描的高灵敏共焦拉曼光谱快速测量方法及装置,属于显微光谱成像技术领域。该方法利用两片二维MEMS微镜实现光束横向扫描,省去了扫描透镜和管镜,并利用二向色分光系统实现反射光和拉曼散射光的无损分离,利用反射光构建...
该专利属于北京理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京理工大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。