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本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种集成芯片设计试验用测试装置，所述测试机构包括安装座，所述安装座顶部的两侧均连接有安装块，所述安装块的内部连接有转轴，所述安装盖底部的两侧均设置有第一安装槽，所述安装座的内部设置有放置槽，所述压块的...
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