温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

提供一种能够在抑制缺陷的漏检的同时抑制过度检测的技术。提供利用被检查物的图像来判定被检查物合格与否的外观检查系统等。外观检查系统具有：存储装置，其存储有合格品图像、记述有多个阈值的基准表以及记述有多个偏移值的偏移表；以及运算电路。多个阈值分...
该专利属于日本电产株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本电产株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。