下载芯片自动测试设备的技术资料

文档序号:35409213

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本申请涉及芯片自动测试设备,料斗存放预装载待测试芯片的待处理夹具及存放已完成芯片测试的待回收夹具;升降台提升料斗中的待处理夹具及下降待回收夹具至料斗中;旋转上料组件以转动方式将升降台上的待处理夹具输送至TEC温控台及将TEC温控台上的待回收...
该专利属于镭神技术(深圳)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过镭神技术(深圳)有限公司授权不得商用。

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