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本公开的实施例涉及用于连续时间Δ∑DELTA SIGMA模数转换器的片上测试架构。一种集成电路包括连续时间Δ∑模数转换器(CTDS ADC)和用于测试CTDS ADC的测试电路。测试电路将多比特数字参考数据转换为单比特数字流。然后，测试电路...
该专利属于意法半导体国际有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过意法半导体国际有限公司授权不得商用。

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