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本实用新型涉及光通信技术领域，特别是涉及一种用于芯片阻抗、S参数及眼图测试的电路及测试组件，包括阻抗测试连接座、待测芯片、直流供电连接座、RF连接器和继电器，待测芯片的第一端口与阻抗测试连接座连接，用于芯片阻抗测试；继电器连接在直流供电连接...
该专利属于成都英思嘉半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都英思嘉半导体技术有限公司授权不得商用。

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