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本发明涉及了一种卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质，该老化状态分析方法包括：获取测试人员输入的待测卡件的外观检测结果；从红外热成像装置获取待测卡件在工作时的红外图像，并根据红外图像确定待测卡件的红外检测结果；通过测试信号源向...该专利属于中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司授权不得商用。