卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质技术方案

技术编号:35133087 阅读:35 留言:0更新日期:2022-10-05 10:06
本发明专利技术涉及了一种卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质,该老化状态分析方法包括:获取测试人员输入的待测卡件的外观检测结果;从红外热成像装置获取待测卡件在工作时的红外图像,并根据红外图像确定待测卡件的红外检测结果;通过测试信号源向待测卡件输入相应的激励信号,并从采集控制装置获取待测卡件相应的响应信号,且根据响应信号确定待测卡件的信号检测结果;根据外观检测结果、红外检测结果和信号检测结果,对待测卡件进行老化状态分析,以获取综合分析结果。实施本发明专利技术的技术方案,可减少漏检、过检情况的发生。过检情况的发生。过检情况的发生。

【技术实现步骤摘要】
卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质


[0001]本专利技术涉及电路板老化测试领域,尤其涉及一种卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质。

技术介绍

[0002]核能发电的安全性、可靠性和经济性是核电厂赖以生存和发展的基础,核电站UPS电源卡件是核电站安全、稳定运行的关键。
[0003]UPS即不间断电源是一种含有储能装置的不间断电源。主要用于给部分对电源稳定性要求较高的设备,提供不间断的电源。当市电输入正常时,UPS将市电稳压后供应给负载使用,同时它还向机内电池充电;当市电中断(事故停电)时,UPS立即将电池的直流电能,通过逆变器切换转换的方法向负载继续供应220V交流电,使负载维持正常工作并保护负载软、硬件不受损坏。UPS设备通常对电压过高或电压过低都能提供保护,故保障UPS电源卡件的安全极其重要。在一定的条件下,卡件通电工作一段时间后,卡件上的一些元件参数就会发生变化,这种变化和卡件的使用时间有关,对于UPS电源卡件,是绝对不允许的。目前,通常会安排工作人员定期检修UPS电源卡件,但欠维修和过度维修时有发生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种卡件的老化状态分析方法,其特征在于,包括:获取测试人员输入的待测卡件的外观检测结果;从红外热成像装置获取待测卡件在工作时的红外图像,并根据所述红外图像确定待测卡件的红外检测结果;通过测试信号源向待测卡件输入相应的激励信号,并从采集控制装置获取待测卡件相应的响应信号,且根据所述响应信号确定待测卡件的信号检测结果;根据所述外观检测结果、所述红外检测结果和所述信号检测结果,对所述待测卡件进行老化状态分析,以获取综合分析结果。2.根据权利要求1所述的卡件的老化状态分析方法,其特征在于,还包括:从设置在机柜内的环境传感器获取机柜的环境信息,并根据所述环境信息确定待测卡件的环境检测结果;而且,所述根据所述外观检测结果、所述红外检测结果和所述信号检测结果,对所述待测卡件进行老化状态分析,包括:根据所述外观检测结果、所述红外检测结果、所述信号检测结果和所述环境检测结果,对所述待测卡件进行老化状态分析。3.根据权利要求1所述的卡件的老化状态分析方法,其特征在于,根据所述外观检测结果、所述红外检测结果和所述信号检测结果,对所述待测卡件进行老化状态分析,以获取综合分析结果,包括:根据预先设置的外观检测、红外检测、信号检测之间的权重比,对所述外观检测结果、所述红外检测结果、所述信号检测结果进行计算,以获取综合分析结果。4.根据权利要求1所述的卡件的老化状态分析方法,其特征在于,根据所述红外图像确定待测卡件的红外检测结果,包括:从所述红外图像中识别出待测卡件的特定元器件,并确定所述特定元器件的发热信息,所述发热信息包括发热值和/或发热面积和/或发热时长;将所确定出的所述特定元器件的发热信息与标准卡件的发热信息进行比较,并根据比较结果,确定红外检测评分值。5.根据权利要求1所述的卡件的老化状态分析方法,其特征在于,根据所述响应信号确定待测卡件的信号检测结果,包括:将所获取的所述响应信号与标准卡件的相应响应信号进行比较,并根据比较结果,确定信号检测评分值。6.根据权利要求2所述的卡件的老化状态分析方法,其特征在于,从设置在机柜内的环境传感器获取机柜的环境信息,包括:从设置在机柜内的温度传感器和/或湿度传感器获取机柜的温度和/或湿度信息。7.一种计算机产品,包括处理器,其特征在于,所述处理器在执行计算机程序时实现权利要求1

6任一项所述的卡件的老化状态分析方法的步骤。8.一种存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序在被处理器执行时实现权利要求1

6任一项所述的卡件的老化状态分析方法。9.一种卡件的老化状态分析系统...

【专利技术属性】
技术研发人员:余惠敏星国龙宋振华魏利峰韩存效徐超刘伟任滈王明许林胡鹏苗延龙李顺民
申请(专利权)人:中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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