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本申请实施例提供一种用于芯片测试的模式生成方法、生成器及测试电路，该方法包括：确定互斥模式和工作模式。比较第一类信号和第二类信号中每个信号控制的状态数目以确定最大状态数目。根据最大状态数目确定模式数目，根据模式数目对所有模式进行编号。将编号...
该专利属于上海类比半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海类比半导体技术有限公司授权不得商用。

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