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本发明提供一种基于模板匹配的缺陷定位方法、系统、设备及介质，涉及缺陷定位技术领域，所述方法首先基于面板图片获取目标框Bbox；然后基于面板图片获取匹配模板T；然后对匹配模板T上的线路进行掩膜处理，得到掩膜模板m；然后基于面板图片获取若干候选...
该专利属于成都数之联科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都数之联科技股份有限公司授权不得商用。

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