一种基于模板匹配的缺陷定位方法、系统、设备及介质技术方案

本发明专利技术提供一种基于模板匹配的缺陷定位方法、系统、设备及介质，涉及缺陷定位技术领域，所述方法首先基于面板图片获取目标框Bbox；然后基于面板图片获取匹配模板T；然后对匹配模板T上的线路进行掩膜处理，得到掩膜模板m；然后基于面板图片获取若干候选框I，基于匹配模板T对候选框I进行相似度匹配；最后基于掩膜模板m获取候选框I上线路与目标框Bbox的相交位置。本发明专利技术基于目标检测将面板图片上存在的缺陷检测出来并获取目标框Bbox，并且基于图像处理技术进行模板匹配，识别到面板图片中的各种线路区域，然后计算目标框Bbox与各种线路区域的交集即可判断缺陷落在哪种线路背景上，便于后续进行缺陷等级判定。便于后续进行缺陷等级判定。便于后续进行缺陷等级判定。

【技术实现步骤摘要】
一种基于模板匹配的缺陷定位方法、系统、设备及介质


[0001]本专利技术涉及缺陷定位
，具体而言，涉及一种基于模板匹配的缺陷定位方法、系统、设备及介质。

技术介绍

[0002]面板加工工厂在生产面板过程中会产生很多缺陷，然而整个面板的生产工艺流程复杂、生产周期长，从基板到生产加工完毕常常需要较长的时间，因此在每个工艺段产生的缺陷都需要时刻监控，避免缺陷流入下一道制程造成良率的降低。缺陷检测过程需要检测出缺陷并判断缺陷类型，传统的缺陷检测依赖人工判图，人工成本高，并且由于人工的主观性和疲惫工作状态，导致判图准确率不高。
[0003]目前很多面板生产厂商引入了智能化缺陷检测系统，用于替代人工检测，这些系统通常基于深度学习的目标检测算法，能够对历史的缺陷样本进行学习，建立缺陷目标检测模型，最终实现对生产的面板进行实时检测，及时发现面板生产过程中出现的缺陷。但是这样的方法一般只能将面板的缺陷检出，而面板生产过程中常常需要判断缺陷落在什么样的背景上，落在不同的背景上需要判定不同的缺陷严重等级，从而指导后续面板返修，因此，由于现有的缺陷检测系本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于模板匹配的缺陷定位方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：基于面板图片获取目标框Bbox，所述目标框Bbox包含缺陷的位置坐标信息；基于面板图片获取匹配模板T，所述匹配模板T包含线路的周期性元素信息；对匹配模板T上的线路进行掩膜处理，得到掩膜模板m；基于面板图片获取若干候选框I，并且基于匹配模板T对候选框I进行相似度匹配，筛选出部分候选框I；基于掩膜模板m获取筛选后的候选框I上的线路，获取该线路与目标框Bbox的相交位置，所述相交位置即为缺陷的背景位置。2.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的缺陷定位方法，其特征在于，所述目标框Bbox的坐标表示为：Bbox=[x1,y1,x2,y2]；其中，（x1,y1）为目标框Bbox的左下角点坐标，(x2,y2)为目标框Bbox的右上角点坐标。3.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的缺陷定位方法，其特征在于，获取匹配模板T的流程如下：对面板图片进行图像轮廓识别处理、图像截取处理，得到初始模板；对初始模板进行二值化处理、边缘轮廓提取处理，得到匹配模板T。4.根据权利要求3所述的一种基于模板匹配的缺陷定位方法，其特征在于，获取掩膜模板m的流程如下：对匹配模板T中不同的线路分别进行多边形标注，得到若干不同的多边形标注区域；设置一个与匹配模板T尺寸相同的黑色背景图M0，并且在黑色背景图M0上对应不同的多边形标注区域填充不同的像素值P1、P2至P
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，得到掩膜模板m。5.根据权利要求4所述的一种基于模板匹配的缺陷定位方法，其特征在于，获取若干候选框I的流程如下：对面板图片进行边缘轮廓提取处理，并且获取面板图片的左下角像素点；将面板图片的左下角像素点作为左下角点坐标，以左下角点坐标为参照点获取一个与匹配模板T尺寸相同的候选框I，其中，匹配模板T的宽度为w，高度为h；将候选框I依次向右/向上平移一个像素，获取若干候选框I。6.根据权利要求5所述的一种基于模板匹配的缺陷定位方法，其特征在于，对候选框I进行相似度匹配的流程如下：依次计算若干候选框I与匹配模板T的相似度R（x,y），所述候选框I的坐标表示为：I=[x,y,x+w,y+h]；其中，（x,y）为候选框I的左下角点坐标，（x...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ五一IntClG零六V一零七五，
申请(专利权)人：成都数之联科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：