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本发明提供一种半导体存储装置及错误检测校正方法，实现错误检测校正能力与写入或读出的性能的并存。本发明的闪速存储器的错误检测校正方法包括：设定步骤，设定用于选择进行1位的错误检测校正的第一错误检测校正功能或进行多位的错误检测校正的第二错误检测...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。

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