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一种光学检测系统配置以检测具有第一线偏振片及四分之一波片的待测组件。光学检测系统包括：光源、偏光调整组件以及检测单元。光源具有出光面且配置以发射光线。偏光调整组件朝向光源的出光面。偏光调整组件配置以将光线转换为线性偏振光。第一线偏振片位于偏...该专利属于业成光电（深圳）有限公司业成光电（无锡）有限公司英特盛科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过业成光电（深圳）有限公司业成光电（无锡）有限公司英特盛科技股份有限公司授权不得商用。