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本发明涉及一种电芯自放电性能筛选方法、系统、设备和介质，方法包括以下步骤：对电压衰减模型参数进行求解，并得到所有待测电芯的初步筛选结果；基于电压衰减模型，对预设时间间隔后待测电芯的电压降进行预测，得到待测电芯的最终筛选结果。本发明能够对电芯...
该专利属于欣旺达电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过欣旺达电子股份有限公司授权不得商用。

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