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本发明属于机器视觉技术领域，尤其为一种基于STM32的超轻量的光纤缠绕缺陷检测方法。该方法主要包括如下步骤：首先，构建基于Yolo
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该专利属于南京邮电大学通达学院所有，仅供学习研究参考，未经过南京邮电大学通达学院授权不得商用。

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