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本发明涉及一种集成电路芯片平移式分选机自动检测装置，包括机架，所述机架上安装有料盘供应机构、芯片吸取机构、测试机构；料盘供应机构包括安装在机架上的输送机构，所述输送机构的输入端安装有用于堆叠放置料盘的料框，料框下端连通输送机构；芯片吸取机构...
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