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本发明提供了一种拉伸测试装置，包括：套筒，套筒一端开口，开口端的侧面沿周向方向等间隔布置有多个第一连接孔；滑杆，与多个第一连接孔一一对应，滑杆的第一端与第一连接孔可拆卸连接；固定器，侧面沿周向方向等间隔布置有多个第二连接孔，第二连接孔与滑杆...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。

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