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一种连续检测射频部分中芯片电性能的检具制造技术
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文档序号:34796138
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本实用新型公开了一种连续检测射频部分中芯片电性能的检具,龙门架(5)横梁的底部固设有水平气缸(12),水平气缸(12)活塞杆的作用端上固设有连接板(13),真空盘(14)的左侧壁上焊接有与其内腔连通的真空管(15),真空盘(14)与真空泵(...
该专利属于成都湛艺电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过成都湛艺电子科技有限公司授权不得商用。
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