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使用产物离子碰撞截面信息进行样品分析的技术制造技术
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下载使用产物离子碰撞截面信息进行样品分析的技术的技术资料
文档序号:34794834
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本发明描述了用于确定产物离子的原子级配置的技术和装置。在一些实施方案中,产物离子CCS信息可用于确定产物离子的亚结构配置,诸如异构体。例如,在一个实施方案中,装置可包括至少一个存储器和逻辑,该逻辑耦接到该至少一个存储器以:接收多个产物离子的...
该专利属于沃特世科技爱尔兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过沃特世科技爱尔兰有限公司授权不得商用。
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