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本发明公开了一种大电流测试的探针测试设备，具体涉及芯片测试设备技术领域，包括测试仪，所述测试仪的表面通过导线电性连接有测试探针套筒，所述测试探针套筒的侧面固定连接有对称分布的第一升降杆和第二升降杆，所述第一升降杆和第二升降杆远离测试探针套筒...
该专利属于深圳市容微精密电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市容微精密电子有限公司授权不得商用。

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