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半导体器件的制备方法技术
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文档序号:34634563
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本发明提出了一种半导体器件的制备方法,包括:B100,将完成正面元器件制备的SiC衬底吸附至玻璃载板;B200,去除封止SiC衬底和Si基载板的SOG后,移除Si基载板;B300,翻转SiC衬底,并采用PI对SiC衬底与玻璃载板进行封止;B...
该专利属于浙江同芯祺科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江同芯祺科技有限公司授权不得商用。
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