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本实用新型公开的属于半导体零件技术领域，具体为晶圆测试装置，包括测试工作台，所述测试工作台顶端安装有箱体，所述箱体顶端内壁开设有圆形凹槽，所述测试工作台底端固定连接有固定框，还包括与箱体连接的测试定位结构，所述吸附组件底端与固定框内壁底端固...
该专利属于江阴市华拓芯片测试有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江阴市华拓芯片测试有限公司授权不得商用。

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