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本申请公开了用于被测试设备谱分析的下降补偿。一种方法(700)包括确定被测试设备(DUT)的所测量的参数的下降分量(706)。所测量的参数响应于具有频率分量的激励信号(702、704)，并且下降分量响应于在第一时间处的参数的第一值和在第二时...
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