用于被测试设备谱分析的下降补偿制造技术

本申请公开了用于被测试设备谱分析的下降补偿。一种方法(700)包括确定被测试设备(DUT)的所测量的参数的下降分量(706)。所测量的参数响应于具有频率分量的激励信号(702、704)，并且下降分量响应于在第一时间处的参数的第一值和在第二时间处的参数的第二值被确定。在第一时间处的参数具有第一相位值，并且在第二时间处的参数具有第二相位值。第一相位值等于第二相位值。该方法还包括通过以下方式校正参数的频域表示：在对应于激励信号的频率分量的参数的表示的频率处应用下降分量(708)。(708)。(708)。

【技术实现步骤摘要】
用于被测试设备谱分析的下降补偿
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求2021年2月12日提交的题为“Voltage Droop Compensation For Battery Electrochemical Impedance Spectroscopy”的美国临时专利申请No.63/148638的优先权，其通过引用整体并入本文。

技术介绍

[0003]谱分析测量被测试设备(DUT)响应谱以表征DUT的作为频率的函数的行为。一种类型的谱分析是电化学阻抗谱分析(EIS)，其中DUT是电池单体或电池单体组，并且所测量的响应是电池阻抗。

技术实现思路

[0004]在本说明书的一个示例中，一种方法包括确定被测试设备(DUT)的所测量的参数的下降分量。所测量的参数响应于具有频率分量的激励信号，并且下降分量响应于在第一时间处的参数的第一值和在第二时间处的参数的第二值被确定。在第一时间处的参数具有第一相位值，并且在第二时间处的参数具有第二相位值。第一相位值等于第二相位值。该方法还包括通过以下方式校正参数的频域表示：在对应于激励信号的频本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方法，包括：确定被测试设备即DUT的所测量的参数的下降分量，其中所述所测量的参数响应于具有频率分量的激励信号，并且其中所述下降分量响应于下列项被确定：在第一时间处的所述参数的第一值，在所述第一时间处的所述参数具有第一相位值；以及在第二时间处的所述参数的第二值，在所述第二时间处的所述参数具有第二相位值，其中所述第一相位值等于所述第二相位值；以及通过以下方式校正所述参数的频域表示：在对应于所述激励信号的所述频率分量的所述参数的所述表示的频率处应用所述下降分量。2.根据权利要求1所述的方法，包括通过以下方式校正所述激励信号的频域表示：在对应于所述激励信号的所述频率分量的所述激励信号的所述表示的频率处应用所述下降分量。3.根据权利要求1所述的方法，其中校正所述参数的所述频域表示包括将所述下降分量应用于包括所述激励信号的所述频率分量的所述参数的所述表示的离散傅里叶变换频率区间。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述下降分量响应于下列项被确定：在第三时间处的所述参数的第三值，在所述第三时间处的所述参数具有第三相位值；以及在第四时间处的所述参数的第四值，在所述第四时间处的所述参数具有第四相位值，其中所述第三相位值等于所述第四相位值，其中所述第三相位值不等于所述第一相位值或所述第二相位值。5.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述下降分量包括计算从所述第一值到所述第二值的斜率，其中所述第一时间和所述第二时间之间的时间量等于所述激励信号的周期的整数倍。6.根据权利要求5所述的方法，其中所述下降分量与所述斜率成比例，并且校正所述参数的所述频域表示包括在对应于所述激励信号的所述频率分量的所述参数的所述表示的所述频率处减去所述下降分量。7.根据权利要求1所述的方法，其中所述DUT是电池单体或电池单体组。8.根据权利要求7所述的方法，其中所述激励信号是电池电流，并且其中所述参数是在所述电池两端的电压。9.根据权利要求8所述的方法，包括响应于经校正的电压和电流确定电池阻抗。10.一种系统，包括：下降估计电路，其被配置为确定参数的下降分量，其中所述参数响应于提供给被测试设备即DUT的激励信号，其中所述激励信号包括频率分量，其中所述下降分量响应于下列项被确定：在第一时间处的所述参数的第一值，在所述第一时间处的所述参数具有第一相位值；以及在第二时间处的所述参数的第二值，在所述第二时间处的所述参数具有第二相位值，其中所述第一相位值等于所述第二相位值；以及
耦合到所述下降估计电路的下降校正电路，其中所述下降校正电路被配置为通过以下方式校正所述参数的频域表示：在对应于所述激励信号的所述频率分量的所述参数的所述表示的频率处应用所述下降分量。11.根据权利要求10所述的系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：C，
申请(专利权)人：德克萨斯仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：