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本申请涉及一种保护装置过载智能测试方法、系统、终端及存储介质,涉及电子电气产品的技术领域,其方法包括以下步骤:获取测试样品和所述测试样品的保护装置信息;基于所述保护装置信息确定保护装置,并确定与所述保护装置对应的测试方案;基于所述测试方案对...该专利属于深圳市德普华电子测试技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市德普华电子测试技术有限公司授权不得商用。
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