【技术实现步骤摘要】
一种保护装置过载智能测试方法、系统、终端及存储介质
[0001]本申请涉及电子电气产品的
，尤其是涉及一种保护装置过载智能测试方法、系统、终端及存储介质。
技术介绍
[0002]保护装置是防止主电源线路因过载导致保护器损坏而加装的过载保护设备。一般来讲，保护装置包括有过温保护装置、过流保护装置、过压保护装置等。
[0003]在对电子电气产品进行质量检测时，保护装置的测试必不可少，现有技术中对保护装置的测试是将产品置于单一的模拟过载环境下，检测产品是否能够实现过载保护，输出保护装置有效/无效的测试结果。
[0004]针对上述中的相关技术，专利技术人认为将保护装置置于单一的模拟过载环境下进行过载检测，由于一些产品内部设置有多种保护装置，不能判断其中某一个保护装置是否可靠，同时测试结果较为单调，不能准确的评估产品的过载保护能力。
技术实现思路
[0005]为了有效并准确地评估保护装置在过载情况下降低产品风险的保护能力，本申请提供一种保护装置过载智能测试方法、系统、终端及存储介质。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取测试样品和所述测试样品的保护装置信息；基于所述保护装置信息确定保护装置，并确定与所述保护装置对应的测试方案；基于所述测试方案对所述测试样品执行过载测试，得到所有所述保护装置的测试结果；基于所述测试结果获取所述测试样品的过载保护等级；基于所述保护装置信息和所述过载保护等级生成检测报告。2.根据权利要求1所述的一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，所述保护装置信息包括保护装置种类和保护装置数量，所述获取所述测试样品的保护装置信息包括以下步骤：获取所述测试样品的原始信息；获取所述测试样品的实物信息；基于所述原始信息和所述实物信息确定所述测试样品的保护装置种类和保护装置数量。3.根据权利要求1所述的一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，所述基于所述测试方案对所述测试样品执行过载测试，得到所有所述保护装置的测试结果包括以下步骤：基于所述测试方案获取第i保护装置；基于所述第i保护装置以及预设的检测系统构建第i测试环境；基于所述第i测试环境对所述测试样品进行过载测试，得到第i保护装置的第i测试结果；其中，i为大于等于1的整数。4.根据权利要求3所述的一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，当i大于1时，所述基于所述第i保护装置构建第i测试环境包括以下步骤：获取已经完成过载测试的保护装置；将所述已经完成过载测试的保护装置从所述测试样品中移除；基于所述第i保护装置以及预设的检测系统构建第i测试环境。5.根据权利要求3所述的一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，所述基于所述第i测试环境对所述测试样品进行过载测试，得到第i保护装置的第i测试结果包括以下步骤：基于所述第i测试环境对所述测试样...
【专利技术属性】
技术研发人员：贾焕宇，
申请(专利权)人：深圳市德普华电子测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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