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本发明涉及芯片测试技术领域，尤其是一种多用途芯片测试装置，包括，质量检测台，质量检测台的顶侧设有间距调节装置，挡板A通过卡扣可拆卸式连接在质量检测台的顶侧，输送带A内嵌在质量检测台的顶侧，龙门架A通过螺栓可拆卸式连接在质量检测台的顶侧，运输...
该专利属于江苏海纳电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏海纳电子科技有限公司授权不得商用。

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