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本发明涉及一种电子元器件近场扫描电磁图案聚类分析方法，所述方法包括：对被测器件进行近场扫描，再对扫描得到的数据进行后期处理得到电磁图像，然后利用改进的K
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该专利属于华南师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南师范大学授权不得商用。

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