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本发明提供了一种RapidIO交换芯片延时性能测量的方法与装置，以RapidIO交换芯片RTL代码作为待测对象DUT；DUT包括数字电路代码和模拟电路代码，所述模拟电路代码包括Serdes模型，用于生成RapidIO协议数据报文作为测试激励...
该专利属于井芯微电子技术（天津）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过井芯微电子技术（天津）有限公司授权不得商用。

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