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少样本目标检测方法、装置和电子设备制造方法及图纸
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文档序号:34433577
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本发明提供一种少样本目标检测方法、装置和电子设备;涉及机器视觉技术领域。该方法包括:采用包括基础类别的第一样本数据训练得到第一模型,第一模型包括支持分支、查询分支,第一模型的支持分支用于提取基础类别的类别特征;采用包括新类别的第二样本数据对...
该专利属于中国科学院自动化研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院自动化研究所授权不得商用。
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