下载一种集成电路封装测试装置的技术资料

文档序号:34419060

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本实用新型提供一种集成电路封装测试装置,主要涉及集成电路生产技术领域。一种集成电路封装测试装置,包括座体,所述座体的顶面开设透槽,所述透槽两侧的上部分别开设数个凹槽,所述凹槽的底面分别固定安装导电片,所述凹槽内壁外侧的下部分别通过扭簧铰接连...
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