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一种芯片测试设备制造技术
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文档序号:34416937
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本公开的实施例提供了一种芯片测试设备,该芯片测试设备包括用于承载待测试片张的检测面板,其中,待测试片张中固定有至少一个待测试芯片;分布于检测面板下方的至少一个读写器,至少一个读写器与至少一个待测试芯片一一对应,且读写器与其对应的待测试芯片之...
该专利属于中国安全防伪证件研制中心所有,仅供学习研究参考,未经过中国安全防伪证件研制中心授权不得商用。
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