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本发明在分光成像中的分析结果的可视化时，能够进行高准确性的分析。一种表面分析方法，其具有如下工序：使用分光相机来获取试样表面的分光图像数据的工序；提取所获取的分光图像数据中的分散于特定波长范围内的n个波长，并将分光图像数据中的各波长的光谱按...
该专利属于株式会社V技术所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社V技术授权不得商用。

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