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本实用新型涉及芯片测试的技术领域，公开了一种测压探针装置及芯片检测系统，用于芯片测试，包括驱动结构、固定台以及探针结构，探针结构包括压力检测件以及检测头，固定台用于放置芯片。本实用新型的有益效果为，通过设置压力检测件以及探测头，当探测头下压...
该专利属于昂纳信息技术(深圳)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昂纳信息技术(深圳)有限公司授权不得商用。

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