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本发明公开一种芯片安全测试电路及逻辑芯片，该芯片安全测试电路包括设置于芯片上的允许测试管脚；测试管控模块，被配置为根据所述允许测试管脚的输入信号来控制输出的允许测试信号的输出状态，且仅当所述芯片经历全局复位后将输出的允许测试信号转换为有效状...
该专利属于上海先楫半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海先楫半导体科技有限公司授权不得商用。

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