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本发明提供了一种测试多径衰落的方法、装置和系统，其方法包括步骤：根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；启动综合测试仪，依据测试模式，设置所述综合测试仪的参数；依据测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；依据测试模式确定各信道路...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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