一种测试多径衰落的方法、装置和系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种测试多径衰落的方法、装置和系统，其方法包括步骤：根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；启动综合测试仪，依据测试模式，设置所述综合测试仪的参数；依据测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；依据测试模式确定各信道路径的衰减量，设置各信道路径的衰减器；建立所述综合测试仪与测试终端的通信；进行所述测试终端的多径衰落性能测试。还提供了相应的装置和系统，从而为用户提供了一种测试多径衰落的替代方案，费用低，可以固化、反复使用，操作简单，适合在广大测试人员中推广，给企业节约了费用，给工程师提供方便，缩短产品开发周期，最终提升产品质量和企业的核心竞争力。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测试多径衰落的方法，其包括步骤：　　　　Ａ１、根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；　　　　　Ａ２、启动综合测试仪，依据所述测试模式，设置所述综合测试仪的参数；　　　　Ａ３、依据所述测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；　　　　Ａ４、依据所述测试模式确定各信道路径的衰减量，设置各信道路径的衰减器；　　　　Ａ５、建立所述综合测试仪与测试终端的通信；　　　　Ａ６、进行所述测试终端的多径衰落性能测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李成恩，段亚军，尹成刚，秦国强，李健，崔巧云，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]