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本实用新型提供IC芯片分选检测辅助装置，涉及IC芯片分选技术领域，包括台座，所述台座的顶面靠近边缘位置处固定安装有侧板，所述台座的顶面放置有托盘，所述托盘的顶面设置有IC芯片本体，所述侧板的顶面贯穿设置有长杆，所述长杆的一端固定安装有吸盘，...
该专利属于深圳市立能威微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市立能威微电子有限公司授权不得商用。

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