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本发明涉及一种激光芯片测试台机构及其工作方法，包括顶部设有芯片吸附孔的芯片承载组件，所述芯片承载组件的上方设有一对可升降的供电探针，芯片承载组件的后侧设有可沿横向移动的测试安装架，所述测试安装架上沿横向依次设有功率测试探头和光谱测试探头；还...
该专利属于泉州兰姆达仪器设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泉州兰姆达仪器设备有限公司授权不得商用。

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