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本技术涉及存储器系统以及操作存储器设备的方法。该存储器系统包括：存储器设备，包括多个半导体存储器；以及控制器，被配置成控制存储器设备，以基于被编程在多个半导体存储器中的每个半导体存储器中的数据中的、与特定编程状态相对应的一些数据的失败位数目...
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