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宁波安芯美半导体有限公司
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一种发光角度的测量装置及测量方法制造方法及图纸
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下载一种发光角度的测量装置及测量方法的技术资料
文档序号:34280828
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本发明公开了一种发光角度的测量装置,包括:支座;测试卡盘,转动安装在支座上;定位件,一端固定连接于测试卡盘,且测试卡盘的旋转中心位于定位件的轴心线延长线上;定位结构,连接于定位件的一端,定位结构容纳有被测件,且允许定位结构转动,且定位结构的...
该专利属于宁波安芯美半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过宁波安芯美半导体有限公司授权不得商用。
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