一种发光角度的测量装置及测量方法制造方法及图纸

技术编号:34280828 阅读:77 留言:0更新日期:2022-07-24 18:17
本发明专利技术公开了一种发光角度的测量装置,包括:支座;测试卡盘,转动安装在支座上;定位件,一端固定连接于测试卡盘,且测试卡盘的旋转中心位于定位件的轴心线延长线上;定位结构,连接于定位件的一端,定位结构容纳有被测件,且允许定位结构转动,且定位结构的旋转轴垂直于测试卡盘;以及接收结构,位于定位结构中心的延长线上,且接收结构位于被测件射出光线的一侧。本发明专利技术提供了一种发光角度的测量装置及测量方法,能够快速、低成本且高精度地测量发光角度。角度。角度。

A measuring device and method for luminous angle

【技术实现步骤摘要】
一种发光角度的测量装置及测量方法


[0001]本专利技术属于光源测试领域,特别涉及一种发光角度的测量装置及测量方法。

技术介绍

[0002]不管是在照明、背光、显示领域,还是用于消毒杀菌的健康领域,对发光器件亮度的追求是无止境的。在某些特殊应用的场景下,对发光器件的光出射角度有特别的要求。而影响发光器件亮度和光效等因素中,除外延、加工工艺外,发光器件的出光角度也是一重要影响因素。
[0003]目前的发光角度测量仪,因价格昂贵、操作方便性等因素,无法满足快捷、低成本检测,影响了特殊发光器件的大规模应用。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种发光角度的测量装置及测量方法,能够快速、低成本且高精度地测量出发光器件的的发光角度。
[0005]为解决上述技术问题,本专利技术是通过以下技术方案实现的:
[0006]本专利技术提供的了一种发光角度的测量装置,包括:
[0007]支座;
[0008]测试卡盘,转动安装在所述支座上;
[0009]定位件,一端固定连接于所述测试卡盘,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种发光角度的测量装置,其特征在于,包括:支座;测试卡盘,转动安装在所述支座上;定位件,一端固定连接于所述测试卡盘,且所述测试卡盘的旋转中心位于所述定位件的轴心线延长线上;定位结构,连接于所述定位件的一端,所述定位结构容纳有被测件,且允许所述定位结构转动,且所述定位结构的旋转轴垂直于所述测试卡盘;以及接收结构,位于所述定位结构中心的延长线上,且所述接收结构位于所述被测件射出光线的一侧。2.根据权利要求1所述的一种发光角度的测量装置,其特征在于,所述接收结构包括:感光传感器;以及偏振器,位于所述定位结构和所述感光传感器之间。3.根据权利要求2所述的一种发光角度的测量装置,其特征在于,所述感光传感器和所述定位结构的间距小于所述被测件发光距离的一半。4.根据权利要求1所述的一种发光角度的测量装置,其特征在于,所述接收结构连接有调节结构,所述接收结构固定在所述调节结构上,且允许所述调节结构带动所述接收结构在垂直于所述定位件的方向上移动。5.根据权利要求1所述的一种发光角度的测量装置,其特征在于,所述支座的一侧设置有凹部,所述凹部内固定有支撑台,且所述支撑台的侧壁与所述凹部的壁面贴合连接。6.根据权利要求5所述的一种发光角度的测量装置,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕振兴齐胜利刘亚柱余康宁王力
申请(专利权)人:宁波安芯美半导体有限公司
类型:发明
国别省市:

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