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本公开关于一种芯片散热状况检测方法、装置、设备及存储介质，该芯片散热状况检测方法包括：获取温度数据，该温度数据包括同一时刻检测的多个处理器芯片的温度值；根据温度数据，生成温度分布曲线；根据温度分布曲线，获得温度是否异常的检测结果。本公开根据...
该专利属于深圳比特微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳比特微电子科技有限公司授权不得商用。

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