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用于优化的干涉散射显微镜的方法和设备技术
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文档序号:34236630
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本申请公开了通过干涉散射显微镜对样品进行成像的方法和设备,该方法包括用至少一个相干光源对样品进行照射,样品被保持在包括界面的样品位置处,界面具有折射率变化,用照射辐射对样品进行照射以产生来自样品的反向传播信号,反向传播信号包括在界面处反射的...
该专利属于牛津大学科技创新有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过牛津大学科技创新有限公司授权不得商用。
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