温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本实用新型提出了一种新型的无压力芯片测试座,包括相适配的基座和上盖,所述基座的两侧对称设置有固定组件,所述固定组件包括压块和第一连接轴,所述压块的第一端通过第一连接轴与所述上盖转动连接,且所述第一连接轴的两端滑动连接在所述基座上;在初始状态...该专利属于苏州英世米半导体技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州英世米半导体技术有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本实用新型提出了一种新型的无压力芯片测试座,包括相适配的基座和上盖,所述基座的两侧对称设置有固定组件,所述固定组件包括压块和第一连接轴,所述压块的第一端通过第一连接轴与所述上盖转动连接,且所述第一连接轴的两端滑动连接在所述基座上;在初始状态...