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本申请提供了一种测量分析电路，包括：主基准源、辅助基准源和标准电阻网络，所述辅助基准源的输出精度高于所述主基准源；所述主基准源与所述标准电阻网络连接，为被测装置提供覆盖其测量量程的基准值；所述辅助基准源与所述标准电阻网络连接，为被测装置提供...
该专利属于北京华峰测控技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京华峰测控技术股份有限公司授权不得商用。

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