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本发明公开一种可在芯片中使用的电容失配校准装置，由被校准电容、比较器失调校准电容、校准电容和比较器组成，被校准电容、比较器失调校准电容和校准电容的一端与比较器的反相输入端连接，被校准电容的另一端分别接输入电压，被校准电容的对称电容，比较器失...
该专利属于东南大学所有，仅供学习研究参考，未经过东南大学授权不得商用。

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