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一种用于通过测量芯片内延迟元件的有效延迟确定所述芯片的处理效果、电压和温度（ＰＶＴ）状态的延迟补偿电路。该延迟补偿电路包括多个取样模块，每个取样模块从带抽头延迟电路内的一系列延迟单元的一个中接收被延迟的时钟信号。所述延迟补偿电路在被锁定到一...
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