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本发明涉及一种X射线荧光分析系统及其分析方法。系统包括：X射线源；单色光学器件用于对X射线源发出的X射线进行单色化，得到单色光束，并利用单色光束对待测样品进行激发；探测器用于探测待测样品受激发后所产生的X射线荧光信号；处理器用于接收X射线荧...
该专利属于苏州佳谱科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州佳谱科技有限公司授权不得商用。

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