温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种用于多晶钨或单晶钨材料组织检验的试验样品制备、检验方法，包括一种用于多晶钨或单晶钨材料低倍和显微组织检验的表面抛光方法、一种用于多晶钨或单晶钨材料低倍和显微组织检验的表面选择性腐蚀方法、一种用于多晶钨或单晶钨材料的低倍组织检验...
该专利属于中国空间技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国空间技术研究院授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。